教學大綱與進度

課程基本資料：

學年期	課號	課程名稱	階段	學分	時數	修	教師	班級	人	撤	備註
112-2	332542	電子顯微鏡學	1	3.0	3	★	徐永富	材料所	6	0

教學大綱與進度：

教師姓名	徐永富　教師諮商時間(Office Hours)
Email	yfhsu@ntut.edu.tw
最後更新時間	2024-04-25 14:27:34
課程大綱	1.電子光學簡介 2.穿透式電子顯微鏡之結構與成像原理 3.電子繞射理論 4.電子繞射圖型及缺陷分析方法 5.掃瞄式電子顯微鏡之結構與成像原理 6.EDS及WDS之X光光譜分析
課程進度	週次 單元主題 1 Introduction 2 Microscopy with Light and Electrons 3 Microscopy with Light and Electrons 4 Electron Beam and Their Interaction with Specimen 5 Electron Beam and Their Interaction with Specimen 6 Electron Diffraction 7 Electron Diffraction 8 The Transmission Electron Microscope 9 期中考試 10 The Transmission Electron Microscope 11 The Transmission Electron Microscope 12 The Scanning Electron Microscope 13 The Scanning Electron Microscope 14 The Scanning Electron Microscope 15 Chemical Analysis in the Electron Microscope 16 Chemical Analysis in the Electron Microscope 17 期末報告 18 期末考試
評量方式與標準	期中考試 35% 期末考試 35% 期末報告+課堂表現 30%
使用教材、參考書目或其他	【遵守智慧財產權觀念，請使用正版教科書，不得使用非法影印教科書】 使用外文原文書：是 Text: “Electron Microscopy and Analysis”3rd ed. Peter J. Goodhew, John Humphreys, and Richard Beanland, 2001 Ref.: 1.“Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis” 3rd ed. J. Goldstein, D. Newbury, D. Joy, C. Lyman, P. Echlin, E. lifshin, L. Sawyer, and J. Michael, 2003. 2.“Transmission Electron Microscopy”- a Textbook for Materials Science, D. B. Williams and C. B. Carter, 1996. 3.“Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis” R. E. Lee, 1993.
課程諮詢管道	有課程問題可至材資館506-3研究室諮詢 研究室校內分機為2739 email: yfhsu@ntut.edu.tw
課程對應SDGs指標
備註	學校通知將統一調整期末考試時間於第16週(6月3日至6月7日)辦理，並自113年6月8日起，實施線上教學至6月22日止。 為能上完預定課程再考試，擬借用系上會議室依進度上課，並於第17週進行期末報告及第18週進行期末考。