教學大綱與進度

課程基本資料：

學年期	課號	課程名稱	階段	學分	時數	修	教師	班級	人	撤	備註
113-1	338004	電子顯微鏡	1	3.0	3	★	魏大華	製科所	31	1	製科所必選課程之一/限30人

教學大綱與進度：

教師姓名	魏大華　教師諮商時間(Office Hours)
Email	dhwei@ntut.edu.tw
最後更新時間	2024-05-16 11:07:50
課程大綱	本課程介紹電子顯微鏡之結構，成像及繞射原理，以及在材料科學方面之應用，課程內容包括電子顯微鏡之構造，電磁透鏡與成像原理，電子繞射原理，繞射圖型分析，試片之製作方法。掃描式電子顯微鏡之構造及成像原理。EDS及WDS之X光光譜測量。
課程進度 (1-16週)	第一週 材料分析技術之介紹與總覽 第二週 光學金相分析：原理、構造、試片製備 第三週 晶體結構及對稱性介紹 第四週 電子束繞射原理 第五週 電子顯微鏡之結構，成像及繞射原理 第六週　 掃描式電子顯微鏡：原理、構造、試片製備 第七週　 掃描式電子顯微鏡：冷/熱場放射差異比較 第八週　 掃描式電子顯微鏡：實例分析與應用 第九週　 期中考試 第十週　 能量分散方式(EDS)及波長分散方式(WDS)之光譜測量分析 第十一週　實例分析與應用 第十二週　電子探針微區分析儀：實例分析與應用 第十三週　縱深分析及半定量分析 第十四週　電子能譜解析 第十五週　各廠牌規格介紹與比較分析 第十六週　學術界相關應用與案例分析 第十七週 工業界相關應用與實例分析 第十八週 期末考試
評量方式與標準	Midterm Exam (10%) Final Exam (50%) Paper Review and Oral Report (40%)
使用教材、參考書目或其他	【遵守智慧財產權觀念，請使用正版教科書，不得使用非法影印教科書】 使用外文原文書：是 “Scanning microscopy for nanotechnology : techniques andapplications”, Weilie Zhou and Zhong Lin Wang, New York : London : Beijing : Springer : Sciencep , 2007 “Scanning probe microscopy: characterization, nanofabrication and device application of functional materials”, Paula Maria Vilarinho, Yossi Rosenwaks and Angus Kingon, Dordrecht : Boston : Kluwer Academic Publishers , c2005. 材料分析Materials Analysis, 汪建民 主編，中國材料科學學會。
課程諮詢管道	教材提供方式及平台: 北科i學園PLUS 教材提供方式及平台: 北科i學園PLUS https://meet.google.com/dhw https://istudy.ntut.edu.tw/teach/index.php
延伸教學與資源
課程對應SDGs指標	SDG9：產業創新與基礎設施（Industry, Innovation and Infrastructure）
課程是否導入AI
備註	本學期原則採實體授課方式；因應疫情警戒標準，本學期教學及授課方式請依照學校網頁所公布之訊息為準： (https://oaa.ntut.edu.tw/p/404-1008-98622.php?Lang=zh-tw) 本學期原則採實體授課方式；因應疫情警戒標準，本學期教學及授課方式請依照學校網頁所公布之訊息為準： (https://oaa.ntut.edu.tw/p/404-1008-98622.php?Lang=zh-tw) 本學期課程因應疫情警戒等級規劃上課方式原則如下，實際實施日期與上課方式，請依照學校網頁所公布之訊息為準： ※「一級」警戒：實體授課。 ※「三級」(含)以上警戒：課程全採遠距授課。 ※「二級」警戒，授課方式說明如下： ● 上課方式： 遠距上課 分流上課 ● 評量方式： 【請說明評分與測驗方式，並請說明在符合防疫規範的前提下，是否保留學生須到校進行實體測驗的可能，如：期中考、期末考採實體紙筆測驗；期末報告採線上報告。】