教學大綱與進度

課程基本資料：

學年期	課號	課程名稱	階段	學分	時數	修	教師	班級	人	撤	備註
110-1	290642	電子顯微鏡學	1	3.0	3	★	徐永富	材資四甲 材資三甲	16	4	材資三四甲合開◎

教學大綱與進度：

教師姓名	徐永富
Email	yfhsu@ntut.edu.tw
最後更新時間	2021-08-31 15:28:24
課程大綱	本課程介紹電子顯微鏡之結構，成像及繞射原理，以及在材料科學方面之應用，課程內容包括穿透式電子顯微鏡之構造，電磁透鏡與成像原理，電子繞射原理，繞射圖型分析，試片之製作方法。掃描式電子顯微鏡之構造及成像原理。EDS及WDS之X光光譜測量。
課程進度	週次 單元主題 1 Introduction 2 Microscopy with Light and Electrons 3 Microscopy with Light and Electrons 4 Electron Beam and Their Interaction with Specimen 5 Electron Beam and Their Interaction with Specimen 6 Electron Diffraction 7 Electron Diffraction 8 The Transmission Electron Microscope 9 期中考試 10 The Transmission Electron Microscope 11 The Transmission Electron Microscope 12 The Scanning Electron Microscope 13 The Scanning Electron Microscope 14 The Scanning Electron Microscope 15 Chemical Analysis in the Electron Microscope 16 Chemical Analysis in the Electron Microscope 17 Chemical Analysis in the Electron Microscope 18 期末考試
評量方式與標準	期中考試 40% 期末考試 40% 課堂表現 20%
使用教材、參考書目或其他	【遵守智慧財產權觀念，請使用正版教科書，不得使用非法影印教科書】 使用外文原文書：是 Text: “Electron Microscopy and Analysis”3rd ed. Peter J. Goodhew, John Humphreys, and Richard Beanland, 2001 Ref.: 1.“Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis” 3rd ed. J. Goldstein, D. Newbury, D. Joy, C. Lyman, P. Echlin, E. lifshin, L. Sawyer, and J. Michael, 2003. 2.“Transmission Electron Microscopy”- a Textbook for Materials Science, D. B. Williams and C. B. Carter, 1996. 3.“Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis” R. E. Lee, 1993.
課程諮詢管道	研究室分機：02-27712171轉2739 手機：0912-892623
課程對應SDGs指標
備註	●上課方式：遠距上課 ●評量方式： 視疫情變化，原則上學生須到校進行期中考、期末考採實體紙筆測驗。 ●補充說明資訊：