課程編碼
Course Code
中文課程名稱
Course Name (Chinese)
英文課程名稱
Course Name (English)
總學分數
Credits
總時數
Hours
3501021 半導體分子材料與製程檢測 Semiconductor molecular materials and fabrication testing 2.0 2
中文概述
Chinese Description
本課程分為三大重點:(1) 製程涵蓋:半導體基礎原理、晶圓製造、加熱製程、蝕刻製程、化學氣相沉積、金屬化製程、製程整合技術。(2) 分析涵蓋:晶相結構分析、奈米3D顯微形貌表面形態分析、原子力顯微鏡。(3) 業界講師共同授課並分享產業為來發展趨勢。
英文概述
English Description
The course is divided into three main points: (1) The fabrication: basic principles of semiconductor, wafer manufacturing, heating process, etching process, chemical vapor deposition, metallization process, and process integration technology. (2) Analysis: crystal structure analysis, nano 3D micro-topography and surface morphology analysis, atomic force microscope. (3) Industry lecturers teach and share industry trends in the future.
核心能力指標 1.運用數學、物理、化學、生化、資訊及工程知識的能力。
4.發掘、分析及處理問題的能力。
6.認知專業倫理及道德責任的能力,具備自我要求、負責的態度。

備註: