課 程 概 述
Course Description

課程編碼
Course Code
中文課程名稱
Course Name (Chinese)
英文課程名稱
Course Name (English)
總學分數
Credits
總時數
Hours
A000020 半導體和光電材料分析方法 Characterization Methods for Semiconductor and Optoelectronic Materials 3.0 3
中文概述
Chinese Description
本課程將探討半導體材料和光電材料之之分析方法及技巧、以及界面和分子間引力之量測方法、表面形態分析、晶相結構分析以及電磁性質量測之技術和其原理。並配合半導體旋轉塗佈機和濺鍍機所備製之薄膜﹐實際操作FTIR顯微鏡、原子力顯微鏡、微量材料流變儀。
英文概述
English Description
This course will present the semiconductor and optoelectronic materials-based analysis techniques and their corresponding theories on the surface property measurements including chemical information, stress analysis, morphology, crystalline structure and intermolecular forces between interfaces. The course also includes a practical training on the FTIR microscope, atomic force microscope, reology meter on the semiconductor materials.

備註:

  1. 本資料係由本校各教學單位、教務處課務組、進修部教務組、進修學院教務組及計網中心所共同提供!
  2. 本資料僅供參考,正式資料仍以教務處、進修部、進修學院所公佈之書面資料為準。