課 程 概 述
Course Description

課程編碼
Course Code
中文課程名稱
Course Name (Chinese)
英文課程名稱
Course Name (English)
總學分數
Credits
總時數
Hours
6505059 掃描式探針顯微術 Scanning Probe Microscopy 3.0 3
中文概述
Chinese Description
量測技術乃是科技發展的主要基石,而奈米量測技術對於奈米科技的研發實佔有舉足輕重之地位。此課程將介紹其中一項重要的的量測技術:掃描式探針顯微術及其應用,內容包括(1)基本原理,(2) 原子力顯微鏡,(3)掃描式穿遂顯微鏡之理論,(4)探針與樣品表面特性,(5) 奈米量測之應用,(6)奈米操控與加工技術,(7)近場掃描光學顯微術。
英文概述
English Description
This course introduces (1)basic principle, (2)atomic force microscope, (3)theory of scanning tunneling microscope, (4)tips and properties of sample surfaces, (5)applications SPM, (6)nano-manipulation and nanoechanics, (7)near-field scanning optical microscopy.

備註:

  1. 本資料係由本校各教學單位、教務處課務組、進修部教務組、進修學院教務組及計網中心所共同提供!
  2. 本資料僅供參考,正式資料仍以教務處、進修部、進修學院所公佈之書面資料為準。