課 程 概 述
Course Description

課程編碼
Course Code
中文課程名稱
Course Name (Chinese)
英文課程名稱
Course Name (English)
總學分數
Credits
總時數
Hours
6505041 半導體材料與元件檢測技術 Semiconductor Materials and Devices Characterizations 3.0 3
中文概述
Chinese Description
1.結構分析2.光學特性分析3.時析光學特性量測4.電性分析5.載子活期與移動率分析6.光電元件分析
英文概述
English Description
1.Structural AnalysisSEM, TEM, SIMS, AES, X-ray diffractrometry, STM2.Optical ConstantsOptical Microscopy, Ellipsometry, FTIR, CWPR, PL3.Time-Resolved Optical MeasurementsTRPR, TRPL, Pump-Probe, EOS, PCS4. ElectricalI-V, C-V, resistance/resistivity, Hall measurements, defects5. Carrier Lifetimes and Mobility6. Characterization of Photonic DevicesPhotodetectors (PD), Optical Modulators (EAM), Laser Diodes (LD)

備註:

  1. 本資料係由本校各教學單位、教務處課務組、進修部教務組、進修學院教務組及計網中心所共同提供!
  2. 本資料僅供參考,正式資料仍以教務處、進修部、進修學院所公佈之書面資料為準。