| 課程編碼 Course Code | 中文課程名稱 Course Name (Chinese) | 英文課程名稱 Course Name (English) | 總學分數 Credits | 總時數 Hours |
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| 3313136 | 奈米檢測 | Nano-materials Characterization | 3.0 | 3 |
| 中文概述 Chinese Description | 量測技術乃是科技發展的主要基石，而奈米量測技術對於奈米科技的研發實佔有舉足輕重之地位。此課程將介紹其中一項重要的的量測技術：掃描式探針顯微術及其應用，內容包括(1)基本原理，(2) 原子力顯微鏡，(3)掃描式穿遂顯微鏡之理論，(4)探針與樣品表面特性，(5) 奈米量測之應用，(6)奈米操控與加工技術，(7)近場掃描光學顯微術。奈米微粒檢測、奈米材料應用、奈米元件、以及奈米材料之安全性。 | |||
| 英文概述 English Description | This course introduces (1)basic principle, (2)atomic force microscope, (3)theory of scanning tunneling microscope, (4)tips and properties of sample surfaces, (5)applications SPM, (6)nano-manipulation and nanoechanics, (7)near-field scanning optical microscopy. development of Nanomaterial testing system; as well as the safeties of the Nanomaterial application | |||
備註：