教學大綱與進度

課程基本資料：

學年期	課號	課程名稱	階段	學分	時數	修	教師	班級	人	撤	備註
103-1	193323	電子顯微鏡	1	3.0	3	★	魏大華	機電所 製科所	26	0	機電所和製科所合開,製科所13選3

教學大綱與進度：

教師姓名	魏大華
Email	dhwei@ntut.edu.tw
最後更新時間	2014-08-12 11:09:32
課程大綱	本課程介紹電子顯微鏡之結構，成像及繞射原理，以及在材料科學方面之應用，課程內容包括穿透式電子顯微鏡之構造，電磁透鏡與成像原理，電子繞射原理，繞射圖型分析，試片之製作方法。掃描式電子顯微鏡之構造及成像原理。EDS及WDS之X光光譜測量。
課程進度	第一週 材料分析技術之介紹與總覽 第二週 光學金相分析：原理、構造、試片製備 第三週 晶體結構及對稱性介紹 第四週 電子束繞射原理 第五週 電子顯微鏡之結構，成像及繞射原理 第六週　 掃描式電子顯微鏡：原理、構造、試片製備 第七週　 掃描式電子顯微鏡：冷/熱場放射差異比較 第八週　 掃描式電子顯微鏡：實例分析與應用 第九週　 期中考試 第十週　 能量分散方式(EDS)及波長分散方式(WDS)之光譜測量分析 第十一週　實例分析與應用 第十二週　電子探針微區分析儀：實例分析與應用 第十三週　縱深分析及半定量分析 第十四週　電子能譜解析 第十五週　各廠牌規格介紹與比較分析 第十六週　學術界相關應用與案例分析 第十七週 工業界相關應用與實例分析 第十八週 期末考試
評量方式與標準	Midterm Exam (20%) Final Exam (50%) Paper Review and Oral Report (30%)
使用教材、參考書目或其他	【遵守智慧財產權觀念，請使用正版教科書，不得使用非法影印教科書】 使用外文原文書：　 “Scanning microscopy for nanotechnology : techniques andapplications”, Weilie Zhou and Zhong Lin Wang, New York : London : Beijing : Springer : Sciencep , 2007 “Scanning probe microscopy: characterization, nanofabrication and device application of functional materials”, Paula Maria Vilarinho, Yossi Rosenwaks and Angus Kingon, Dordrecht : Boston : Kluwer Academic Publishers , c2005. 材料分析Materials Analysis, 汪建民 主編，中國材料科學學會。
課程諮詢管道
備註