| 課程編碼 Course Code | 中文課程名稱 Course Name (Chinese) | 英文課程名稱 Course Name (English) | 總學分數 Credits | 總時數 Hours |
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| 4006006 | CMOS元件量測與可靠度工程 | CMOS Device Measurement and Reliability Engineering | 3.0 | 3 |
| 中文概述 Chinese Description | 先修課程：負責教授同意。課程簡介，材料簡介，量子效應，被動元件，被動元件特性，主動元件，主動元件特性，主動元件參數，元件設計，參數粹取，氧化層可靠性分析，熱載子效應，金屬漂移分析，產品可靠性分析(包括靜電防護)。 | |||
| 英文概述 English Description | Introduction, semiconductor materials, quantum effect, passive devices, characteristics of passive devices, active devices, characteristics of active devices, parameters of active devices, pattern designs., parameter extraction, oxide reliability analysis, hot carrier effect, metal migration analysis, product reliability analysis (including ESD protection). | |||
備註：